Nummer | Titel | ECTS | Umfang | Dozierende |
---|
402-0034-10L | Physik II | 4 KP | 2V + 2U | |
402-0034-10 V | Physik II
Beginn in der zweiten Semesterwoche | | 2 Std. | | W. Wegscheider |
402-0034-10 U | Physik II
Beginn in der zweiten Semesterwoche Do 15-17 für Studiengang Maschineningenieurwissenschaften Do 16-18 für Studiengang Rechnergestützte Wissenschaften | | 2 Std. | | W. Wegscheider |
402-0101-00L | The Zurich Physics Colloquium | 0 KP | 1K | |
402-0101-00 K | The Zurich Physics Colloquium
**together with the Uni Zurich** 16:15-17:15 | | 1 Std. | | R. Renner,
G. Aeppli,
C. Anastasiou,
N. Beisert,
G. Blatter,
M. Carollo,
C. Degen,
G. Dissertori,
K. Ensslin,
T. Esslinger,
J. Faist,
M. Gaberdiel,
G. M. Graf,
R. Grange,
J. Home,
S. Huber,
A. Imamoglu,
P. Jetzer,
S. Johnson,
U. Keller,
K. S. Kirch,
S. Lilly,
L. M. Mayer,
J. Mesot,
M. R. Meyer,
B. Moore,
F. Pauss,
D. Pescia,
A. Refregier,
A. Rubbia,
K. Schawinski,
T. C. Schulthess,
M. Sigrist,
A. Vaterlaus,
R. Wallny,
A. Wallraff,
W. Wegscheider,
A. Zheludev |
402-0318-00L | Semiconductor Materials: Characterization, Processing and Devices | 6 KP | 2V + 1U | |
402-0318-00 V | Semiconductor Materials: Characterization, Processing and Devices | | 2 Std. | | S. Schön,
W. Wegscheider |
402-0318-00 U | Semiconductor Materials: Characterization, Processing and Devices | | 1 Std. | | S. Schön,
W. Wegscheider |