Lukas Meier: Courses in Spring Semester 2020

Name Dr. Lukas Meier
Address
Seminar für Statistik (SfS)
ETH Zürich, HG G 15.2
Rämistrasse 101
8092 Zürich
SWITZERLAND
Telephone+41 44 632 97 49
E-maillukas.meier@stat.math.ethz.ch
URLhttp://stat.ethz.ch/~meier/
DepartmentMathematics
RelationshipLecturer

NumberTitleECTSHoursLecturers
401-0620-00LStatistical Consulting0 credits0.1K
401-0620-00 KStatistischer Beratungsdienst
Tel. 044 632 2223
E-Mail beratung@stat.math.ethz.ch
0.1 hrsby appt.M. Kalisch, L. Meier
401-4620-00LStatistics Lab Restricted registration - show details
Number of participants limited to 27.
6 credits2S
401-4620-00 SStatistics Lab
Substantial additional time is required for attending the consulting sessions, carrying out the data analysis and writing of the report. The dates/times for the sessions are arranged on an individual basis. More information is given during the first seminar lecture.
2 hrs
Wed15-17HG E 33.1 »
04.03.15-17HG F 7 »
11.03.15-17HG F 7 »
18.03.15-17HG F 7 »
M. Kalisch, M. H. Maathuis, M. Mächler, L. Meier, N. Meinshausen
401-5640-00LZüKoSt: Seminar on Applied Statistics Information 0 credits1K
401-5640-00 KZüKoSt: Seminar on Applied Statistics
**gemeinsam mit der Universität Zürich**

Zeit: 15:15-16:30
Nach besonderem Programm gemäss Ankündigung, Koordination M. Kalisch Tel. 044 632 3435
10s hrs
Fri15-17HG G 19.1 »
M. Kalisch, A. Bandeira, P. L. Bühlmann, R. Furrer, L. Held, T. Hothorn, M. H. Maathuis, M. Mächler, L. Meier, N. Meinshausen, M. Robinson, C. Strobl, C. Uhler, S. van de Geer
447-0990-00LWorkshop Restricted registration - show details
Only for DAS in Applied Statistics.
1 credit1S
447-0990-00 SWorkshop (DAS ETH in Angewandter Statistik)1 hrs
Mon12-13HG G 26.5 »
L. Meier
701-0105-00LMathematics VI: Applied Statistics for Environmental Sciences
Requirement: enrollment of 401-0624-00L Mathematics IV: Statistics or similar lecture.
3 credits2G
701-0105-00 GMathematik VI: Angewandte Statistik für Umweltnaturwissenschaften2 hrs
Tue08-10ER SA TZ »
08-10HG E 1.1 »
C. Bigler, M. Kalisch, L. Meier