Das Herbstsemester 2020 findet in einer gemischten Form aus Online- und Präsenzunterricht statt.
Bitte lesen Sie die publizierten Informationen zu den einzelnen Lehrveranstaltungen genau.

327-2125-00L  Microscopy Training SEM I - Introduction to SEM

SemesterHerbstsemester 2016
DozierendeS. Rodighiero, A. G. Bittermann, K. Kunze, J. Reuteler
Periodizitätjedes Semester wiederkehrende Veranstaltung
LehrspracheEnglisch
KommentarNumber of participants limited to 6.
The participants will be chosen based on a short motivation letter. Please send this letter to S. Rodighiero (main lecturer) as soon as possible.



Katalogdaten

KurzbeschreibungDer Einführungskurs in Rasterelektronenmikroskopie (SEM) betont praktisches Lernen. Die Studierenden haben die Möglichkeit an zwei Elektronenmikroskopen ihre eigenen Proben oder Standard-Testproben zu untersuchen, sowie von ScopeM-Wissenschafler vorbereitete Übungen zu lösen.
Lernziel- Set-up, align and operate a SEM successfully and safely.
- Accomplish imaging tasks successfully and optimize microscope performances.
- Master the operation of a low-vacuum and field-emission SEM and EDX instrument.
- Perform sample preparation with corresponding techniques and equipment for imaging and analysis
- Acquire techniques in obtaining secondary electron and backscatter electron micrographs
- Perform EDX qualitative and semi-quantitative analysis
InhaltDuring the course, students learn through lectures, demonstrations, and hands-on sessions how to setup and operate SEM instruments, including low-vacuum and low-voltage applications.
This course gives basic skills for students new to SEM. At the end of the course, students with no prior experience are able to align a SEM, to obtain secondary electron (SE) and backscatter electron (BSE) micrographs and to perform energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX) qualitative and semi-quantitative analysis. The procedures to better utilize SEM to solve practical problems and to optimize SEM analysis for a wide range of materials will be emphasized.

- Discussion of students' sample/interest
- Introduction and discussion on Electron Microscopy and instrumentation
- Lectures on electron sources, electron lenses and probe formation
- Lectures on beam/specimen interaction, image formation, image contrast and imaging modes.
- Lectures on sample preparation techniques for EM
- Brief description and demonstration of the SEM microscope
- Practice on beam/specimen interaction, image formation, image contrast (and image processing)
- Student participation on sample preparation techniques
- Scanning Electron Microscopy lab exercises: setup and operate the instrument under various imaging modalities
- Lecture and demonstrations on X-ray micro-analysis (theory and detection), qualitative and semi-quantitative EDX and point analysis, linescans and spectral mapping
- Practice on real-world samples and report results
Literatur- Detailed course manual
- Williams, Carter: Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, 1996
- Hawkes, Valdre: Biophysical Electron Microscopy, Academic Press, 1990
- Egerton: Physical Principles of Electron Microscopy: an introduction to TEM, SEM and AEM, Springer Verlag, 2007
Voraussetzungen / BesonderesNo mandatory prerequisites. Please consider the prior attendance to EM Basic lectures (551- 1618-00V; 227-0390-00L; 327-0703-00L) as suggested prerequisite.

Leistungskontrolle

Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird)
Leistungskontrolle als Semesterkurs
ECTS Kreditpunkte1 KP
PrüfendeS. Rodighiero, A. G. Bittermann, K. Kunze, J. Reuteler
Formunbenotete Semesterleistung
PrüfungsspracheEnglisch
RepetitionRepetition nur nach erneuter Belegung der Lerneinheit möglich.
Zusatzinformation zum PrüfungsmodusOral presentation and discussion about the SEM images and results obtained during the course.

Lernmaterialien

Keine öffentlichen Lernmaterialien verfügbar.
Es werden nur die öffentlichen Lernmaterialien aufgeführt.

Lehrveranstaltungen

NummerTitelUmfangDozierende
327-2125-00 PMicroscopy Training SEM I - Introduction to SEM Für Fachstudierende und Hörer/-innen ist eine Spezialbewilligung der Dozierenden notwendig.
This block course will take place from 24th-28th October 2016.
35s Std.
24.10. - 26.10.08-13HPZ E 35 »
24.10. - 28.10.08-17HPZ C 24 »
08-17HPZ C 31.1 »
27.10.08-10HPZ E 35 »
S. Rodighiero, A. G. Bittermann, K. Kunze, J. Reuteler

Gruppen

Keine Informationen zu Gruppen vorhanden.

Einschränkungen

Allgemein : Für Fachstudierende und Hörer/-innen ist eine Spezialbewilligung der Dozierenden notwendig
PlätzePlätze beschränkt. Spezielles Auswahlverfahren.
WartelisteBis 07.10.2016
BelegungsendeBelegung nur bis 26.09.2016 möglich

Angeboten in

StudiengangBereichTyp
Gesundheitswissenschaften und Technologie MasterWahlfächer IIWInformation
Gesundheitswissenschaften und Technologie MasterWahlfächer IIWInformation
Gesundheitswissenschaften und Technologie MasterWahlfächer IIWInformation
Gesundheitswissenschaften und Technologie MasterWahlfächer IIWInformation
Materialwissenschaft MasterWahlfächerWInformation
Physik MasterAllgemeine WahlfächerWInformation