651-1851-00L  Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie

SemesterHerbstsemester 2016
DozierendeK. Kunze, L. Martin
Periodizitätjährlich wiederkehrende Veranstaltung
LehrveranstaltungFindet dieses Semester nicht statt.
LehrspracheDeutsch


Kurzbeschreibung
LernzielEinführung in die Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse. Erwerb praktischer Fertigkeiten in der selbständigen Bedienung eines REM.
InhaltFunktionsweise und die wesentlichen Betriebsarten eines Rasterelektronenmikroskopes. Methoden und Einsatzzwecke zur
- Abbildung (SE, BSE, FSE, AE, KL),
- Röntgen-Spektroskopie (EDX),
- Elektronen-Beugung (EBSD, Channeling, Orientation Imaging).
Methoden zur Probenpräparation.
Praktische Übungen
SkriptBeilagen und Bedienungsunterlagen werden während des Kurses abgegeben
Literatur- Reed: Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology. Cambridge University Press (1996).
- Schmidt: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse. Expert-Verlag Renningen-Malmsheim (1994).
- Reimer, Pfefferkorn: Rasterelektronenmikroskopie. Springer Berlin (1973).
- Goldstein et al: Scanning Elektron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Plenum Press New York London (1981).
Voraussetzungen / BesonderesGanztägiger Blockkurs nach Ende des HS